Altera边界扫描测试怎么用?设计人员使用BST规范测试引脚连接时无需使用物理探针,器件的界扫描单元能够迫使逻辑追踪引脚信号,或是从引脚、器件核心逻辑信号中捕获数据。强行加入的测试数据串行地移入边界扫描单元,捕获的数据串行移出并在器件外部同预期的结果进行比较,人们就能得出该器件是否存在内部损坏的结论。下图说明了边界扫描测试法的原理与方法。

该方法设计了一个串行扫描路径,通过该路径就能捕获器件核心逻辑的内容,或者测试遵守I EEE规范的器件之间的引脚连接情况。通过JTAG测试端口实现对I SP器件的在系统编程,就能够完成芯片的电路测试。

Altera边界扫描测标准的边界扫描测试只需要四根信号线,即TDI(测试数据输入TIX)(测试数据输出)、TMS (测试模式选择)和丁CK (测试时钟输入),能够对电路板上所有支持边界扫描的芯片内部逻辑和边界管脚进行测试。应用边界扫描技术能够增强芯片、电路板甚至系统的可测试性。

.边界扫描技术有着广阔的发展前景。现在多种CPLD/FPGA器件都支持边界扫描测试技术,如Xilinx4000系列的「PGA以及LatticeispLS13000,ispLS16000系列、MACH4000、5000系列与Altera公司的CPLD器件都遵守IEEE规范,并为输入引脚和输出引脚以及专用配置引脚都提供了BST的功能。

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