检测光敏电阻器的方法

光敏电阻器具有电阻值随入射光线的强弱发生变化的特性,因此在使用万用表对光敏电阻器进行检测时,要进行遮光与不遮光测试,其方法如下:

1.不遮光法(即把光敏电阻器放在一般光照条件下进行检测)

首先将万用表调至“R×1 k”挡,然后进行零欧姆校正(调零校正),把两表笔分别接在光敏电阻器两端引脚上进行检测。若万用表的指针可以读出一个固定电阻值,则说明该电阻器工作正常;若测得的电阻值趋于零或无穷大,则说明该电阻器已损坏。图5-7所示为光敏电阻器不遮光法检测。

2.遮光法

将光敏电阻盖住(使其处于完全黑暗的状态下),将万能表调至“R×1k”挡,然后进行零欧姆校正(调零校正),把两表笔分别接在光敏电阻器两端引脚上进行检测。些时万用表的指针基本保持不动,阻值接近无穷大。(此阻值越大说明光敏电阻性能越好),说明该电阻器正常;若此值很小(或接近为零)或与一般条件下的阻值相近,则说明该电阻器已损坏。图5—8所示为光敏遮光法检测。

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