以下是一些常见的新洁能芯片导通电阻测试方法：

四探针法：

原理：使用四根等间距的探针排列在同一条直线上，其中外侧两根探针用于施加电流，内侧两根探针用于测量电压。通过测量电压和已知的电流，依据欧姆定律计算出导通电阻。

步骤：将四探针与芯片的待测部位接触良好，施加一定的电流，测量相应的电压值，然后进行计算。

优点：可以消除探针与芯片接触电阻以及测试线路电阻对测量结果的影响，测量精度较高，适用于小尺寸芯片和微区的导通电阻测量。

缺点：对探针的排列精度和接触要求较高，设备相对复杂。

开尔文四线检测法（也叫四端子测量法）：

原理：利用两对独立的导线，一对用于施加电流，另一对用于测量电压。电压测量导线与电流路径分开，可有效避免测量导线自身电阻和接触电阻对电压测量的影响，从而更准确地测量芯片的导通电阻。

步骤：把两对导线分别连接到芯片的相应电极上，施加特定的电流，同时测量电压，再根据欧姆定律得出导通电阻。

优点：能极大地减小测量误差，特别是在测量低导通电阻时优势明显，适用于各种类型的芯片导通电阻测量。

缺点：需要专门的测试设备和接线配置，操作相对复杂一些。

传输线脉冲（TLP）测试法：

原理：向芯片发送短脉冲信号，通过测量芯片在不同电压和电流条件下的响应，来分析其导通电阻等特性。

步骤：产生一系列特定宽度和幅度的脉冲信号施加到芯片上，检测芯片对这些脉冲的响应，包括电流、电压的变化情况，进而得到导通电阻随电压、电流变化的曲线。

优点：可以模拟芯片在实际工作中的瞬态情况，能够全面地反映芯片的导通电阻特性以及在瞬态条件下的性能表现，对于研究芯片的可靠性和高速开关特性非常有帮助。

缺点：测试设备复杂且昂贵，测试过程需要专业的技术和经验，且对测试环境要求较高。

直流参数测试法：

原理：在芯片的电极之间直接施加直流电压和电流，通过测量得到的电压和电流数据来计算导通电阻。

步骤：使用直流电源给芯片提供稳定的电压，同时使用电流表测量通过芯片的电流，或者使用电压表测量芯片两端的电压，再依据欧姆定律计算导通电阻。

优点：测试方法简单直接，容易操作，适用于常规的芯片导通电阻测量。

缺点：可能受到芯片内部电容、电感等因素的影响，在测量高频或快速开关芯片时，测量结果可能不够准确。