【电子资讯】导致EOS失效的原因

EOS是指所有的过度电性应力,EOS失效产生的原因主要有以下几种:

1、测试程序开关引起的瞬态毛刺短时脉冲波形干扰。

2、测试设计欠佳,例如,在器件尚未加电或已超过其操作上限的情况下给器件发送测试信号。再比如在对器件供电之前加入测试信号,或超过最大操作条件。

3、电源(AC DC) 干扰、电源噪声和过电压。

4、不恰当的工作步骤,工作流程不甚合理。

5、由于测试程序切换(热切换)导致的瞬变电流峰值低频干扰。其过程持续时间可能是几微秒到几秒(也可能是几纳秒),很短的EOS 脉冲导致的损坏与ESD损坏相似。

6、加工过程的离子残存也是一些潜在因素而使器件发生EOS。 (不过,目前来看这种情况极少)

7、产品本身设计缺陷(包含线路结构及PCB Layout布局等等)。

8、来自其它设备的脉冲信号干扰,即从其它装置发送的脉冲。

9、接地点反跳(由于接地点不够导致电流快速转换引起高电压)。

10、闪电。

11、工艺缺陷。

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